2024年7月11—13日，“2024中国检测技术与半导体应用大会暨半导体分析检测仪器与设备发展论坛”于上海虹桥成功举办。

本次大会在中国技术创业协会、上海市经济和信息化委员会、上海市科学技术协会、上海虹桥国际中央商务区管理委员会和上海市闵行区人民政府指导下，由国家集成电路创新中心、上海市仪器仪表行业协会和财联社主办，复旦大学光电研究研究院、复创芯、科创板日报、上海南虹桥投资开发有限公司等单位承办，中国上海测试中心、上海市集成电路行业协会等单位协办。

中国科学院院士、复旦大学光电研究院院长褚君浩；中国工程院院士、上海理工大学光电信息与计算机工程学院院长庄松林，中国半导体行业协会副秘书长兼封测分会秘书长徐冬梅等众多学术、行业大咖悉数到场；来自清华大学、北京大学、复旦大学、上海交通大学、华东师范大学、同济大学、上海大学、上海理工大学、浙江大学、南京大学、哈尔滨工业大学、天津大学、北京航空航天大学、华中科技大学、深圳大学和华侨大学等半导体检测领域的专家教授也参会分享了前沿技术和待开发的需求；此外，中科飞测、上海精测、普源精电、北方华创、通富微电、苏州天准和长川科技等100多家行业内知名企业，前来分享经验，发布产业成果；500多位业内嘉宾，共同参加了会议交流。

此次大会规模空前，除了开幕当天的主旨报告，还设立包括集成电路晶圆级缺陷检测技术、半导体器件可靠性及失效分析、先进制造及封装技术、半导体检测设备及核心零部件等在内的15个分会报告，70多场专题分享。

报告嘉宾们热情洋溢地分享着自己的研究成果和技术方案，参会者全神贯注，共同深入探讨行业内的最新进展，进行着思维的碰撞和经验的交流；这场学术与企业交流的盛会，对半导体行业的发展将产生深远的影响。

才道精密，做为半导体检测设备的新兴企业，也应邀参加了此次盛会，并向参会者，展示了三维纳米尺度的检测设备—-原子力显微镜。这是第三代第四代化合物半导体衬底外延片必检项—-粗糙度检测必选的设备，市场一直被国外品牌所垄断。才道精密12英寸（8英寸）工业端原子力显微镜的推出，开启了该设备国产替代的第一步，该国产化原子力显微镜已经获业内相关客户的关注和认可。

才道精密一直聚焦半导体和面板显示行业的精密显微检测设备的研发生产和销售，致力于“国产替代”，助力民族产业的发展，除原子力显微镜外，还推出了半自动/全自动半导体电性测试的探针台、半自动/全自动高精度8英寸晶圆划片机、玻璃基板自动化复合型宏微观检测设备等。

此次会议，也让更多的业内专家和企业了解了才道精密，给予了很多关注，为以后的合作与发展，打下了信任的基础。